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标准详细信息

半导体器件　机械和气候试验方法　第16部分：粒子碰撞噪声检测(PIND)
标准编号：GB/T 4937.16-2025	标准状态：即将实施	阅读打印版价格： 31.0

标准简介

本文件描述了空腔器件内存在自由粒子的检测方法，如陶瓷碎片、残余键合引线或焊料球（金属颗粒)。
本试验是非破坏性试验。

标准编号：
GB/T 4937.16-2025
标准名称：
半导体器件　机械和气候试验方法　第16部分：粒子碰撞噪声检测(PIND)
英文名称：
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 16:Particle impact noise detection(PIND)
标准状态：
即将实施
发布日期：
2025-10-31
实施日期：
2026-05-01
出版语种：
中文简体

标准类型：
CN
标准属性：
GB
标准编号：
4937.16
起草人：
席善斌、裴选、张嘉声、彭浩、孙博、辛长林、何祥旺、许志钦、王英程、裴晓波、邱钰、张魁、宋玉玺、武立会、刘玮
起草单位：
中国电子科技集团公司第十三研究所、广州翔声智能科技有限公司、珠海市精实测控技术有限公司、广州海关技术中心、安徽高芯众科半导体有限公司、装备发展部军事代表局驻武汉地区军代表室
归口单位：
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
提出部门：
中华人民共和国工业和信息化部
发布部门：
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

半导体器件 机械和气候试验方法 第16部分：粒子碰撞噪声检测(PIND)